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    產品展示 Products

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

    您現在的位置是:網站首頁?。?a href="productsall.asp">產品展示  - 腐蝕性氣體吸附
    BSD-PMC 腐蝕性氣體吸附分析儀
    Corrosive Gas Adsorption Analyzer
    產品簡介:BSD-PMC腐蝕性氣體吸附分析儀屬于研究級儀器,可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數據,尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準確測試結果,可升級為雙站微孔測試功能,適用于對研發、實驗要求極高的科研單位和企業用戶。集裝閥門和管路設計,模塊化組裝,保證儀器高真空度和高密封性,是高性能和高穩定性的典型產品。
     
      產品特點  ?Features:

     ?      ◆ 2個樣品預處理脫氣站,1個樣品分析站,1個P0測試位,2路獨立冷阱;
             (專利名稱:靜態法比表面及孔徑分析儀的凈化預處理裝置.專利號:ZL201120136943. 9)
     ?      ◆ 脫氣系統和分析系統實現完全獨立運行,互不干擾;
     ?      ◆ 全程自動化智能化運行,無需人工值守,親和的真人語音操作提示;
     ?      ◆ BEST多路歧管模塊,英??禉z漏儀出廠檢測,保證儀器真空度和穩定性;
     ?      ◆ 獨立的高精度飽和蒸汽壓(P0)實時測試站;
             (專利名稱:靜態法比表面及孔徑分析儀的飽和蒸汽壓測試裝置.專利號:ZL201120136959.X)
     ?      ◆ 飽和蒸氣壓螺旋P0管:采用螺旋狀的P0管作為飽和蒸汽壓管,與儀器主機連接,能夠更快的達到液氮溫度,是的測試的飽和蒸汽壓更接近真實值(與進口等溫夾的效果一樣,解決了直形不銹鋼P0管測試結果偏大2%的問題),提高測試精度。
             (專利名稱:飽和蒸氣壓螺旋P0管及靜態法比表面及孔徑分析儀.專利號:ZL201620716311.2) 
     ?      ◆ 雙冷阱保護真空系統和分子泵;
             (專利名稱:具有除塵防污染裝置的靜態容量法比表面及孔徑分析儀.專利號:201320045881.X)
     ?      ◆ 貝士德獨創的脫氣位濾塵袋,徹底消除對儀器內部結構的污染
             結合貝士德獨創的渦旋降塵原理的硬件防抽飛裝置,能夠在不降低現有氣體流導前提下實現粉塵過濾功能,徹底杜絕粉末樣品對儀器內部結構的污染,抽真空脫氣時間縮短、效果提高。
             (專利名稱:具有脫氣位濾塵袋裝置的靜態法物理吸附儀.專利號:ZL201620714986.3)
     ?      ◆ 脫氣處理:2.4.8個預處理站可選,采用全自動程序控制,定時開始、真空泵自動啟停、程序升溫、定時結束,可實現無人值守測試和樣品脫氣處理。
     ?      ◆ 智能自檢流程,智能判斷樣品管是否安裝,試管夾套是否擰緊有無漏氣;
     ?      ◆ 自動加蓋:儀器必須具有液氮杯自動加蓋功能,能夠有效的減少液氮的揮發,同時也可避免水蒸氣在杜瓦杯口和樣品管上冷凝結冰
             (專利名稱:加蓋裝置及靜態法比表面及孔徑分析儀.專利號:ZL201420148358.40)
     ?      ◆ 詳盡的儀器運行日志顯示與記錄,可精確到秒,全程實驗記錄可追溯;
     ?      ◆ 超強的穩定性,即使意外斷電、斷線,不會丟失當前數據,且實驗可恢復繼續進行;
     ?      ◆ 液氮杯防意外“安全下降”智能控制機制,完全避免了液氮杯意外下降氣體膨脹使樣品管爆裂的危險;
     ?      ◆ 智能雙模式投氣量控制,在保證實驗精度的前提下提高實驗效率;
     ?      ◆ 4路獨立進氣,可支持CO2,Ar等其他氣體吸附;
     ?      ◆ 大容量小口徑杜瓦瓶保溫時長大于140小時,連續測試96小時無需添加液氮;
     ?      ◆ 多項專利技術保障儀器穩定性和準確性;
     ?      ◆ 雙站微孔測試功能可選配;
     ?      ◆ 多組分競爭吸附IAST理論模型:該理論模型可根據純組分的吸附等溫線,模擬計算得到混合組分競爭吸附等溫線,用于多組分競爭吸附的理論預測;
     
      測試理論  ?Test Theory?:

     ?      ◆  吸附、脫附等溫線;
     ?      ◆  BET單點法,多點法比表面  朗格繆爾(Langmuir)比表面;
     ?      ◆  統計吸附層厚度法外比表面(STSA)粒度估算報告和真密度;
     ?      ◆  BJH法吸脫附孔容孔徑分布;
     ?      ◆  MK-plate法(平行板模型)孔容孔徑分布;
     ?      ◆  t-plot法微孔分析;
     ?      ◆  MP法(Brunauer) 微孔分析;
     ?      ◆  D-R法微孔分析;
     ?      ◆  HK法微孔分析;
    ? ?      ◆  ???DFT法微孔分析;
     
      測試報告  ?Testing Report?:?

     

    T-plot法v-t圖?


     

    等溫線


    H-K法微分積分孔體積孔徑分布圖


    IAST多組分競爭吸附理論擬合?


      相關資料? Relevant Information:

    1.GB/T 21650.3-2011/ISO 15901-3:2007 壓汞法和氣體吸附法測定固體材料孔徑分布和孔隙度——第3部分:氣體吸附法分析微孔

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    京公網安備 11010802025944號

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